电子元器件可靠性工程基本信息

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孙青等编著的《电子元器件可靠性工程基本信息》于2002年10月由电子工业出版社出版，是该领域的重要参考书。此书经过一次版次的修订，共计297页，字数约465,000，于2003年6月再次印刷，ISBN编号为9787505377929，采用平装形式。

本书内容涵盖了电子元器件可靠性工程的基本概念、原理和方法，对电子元器件的可靠性问题进行了深入的探讨和分析。全书结构清晰，从基础理论到实际应用，逐步深入，使得读者能够系统地理解电子元器件可靠性工程的全貌。

在理论部分，作者详细介绍了可靠性理论的基本概念，包括元器件的寿命、失效模式、概率模型等，为读者提供了坚实的知识基础。同时，本书还深入探讨了可靠性评估方法，如加速寿命试验、可靠性建模、可靠性分析等，为读者提供了实用的工具和方法。

在实际应用方面，本书结合实例分析，详细阐述了电子元器件在设计、制造、使用和维护过程中的可靠性管理策略。通过深入浅出的案例分析，读者可以学习如何在实际工作中应用可靠性工程知识，以提高电子产品的可靠性和使用寿命。

总之，《电子元器件可靠性工程基本信息》是一本全面介绍电子元器件可靠性工程的优秀参考书。无论是对初学者还是专业人士，本书都具有很高的价值，可以帮助读者深入理解电子元器件的可靠性问题，并掌握相应的评估和管理方法。