透光率/反射率测定仪技术参数
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发布时间：2024-10-22 22:39
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时间：2024-10-29 05:30
I型仪器采用Sony ILX511 x线形CCD阵列作为探测器，其检测范围覆盖380-1000nm，波长分辨率小于1.35nm，信噪比在全信号模式下为250：1，相对检测误差在400-800nm区间内小于0.6%。操作方式为手动。
II型设备升级为电动操作，依然使用Sony ILX511，检测范围拓宽至380-1100nm，波长分辨率保持在1.35nm以下，信噪比提升至1000：1。相对检测误差在400-800nm区间内降低至0.6%。它的角度分辨率极为精确，小于0.0002º。
III型测定仪则采用Hamamatsu S7031背照式2D-CCD，检测范围达到360-1100nm，波长分辨率同样小于1.35nm，信噪比显著提高，达到1000：1。角度分辨率进一步优化，重复定位精度在0.005º以内，最大旋转速度为25º/s。透射/反射测量角可调整在8º至80º之间，且可扩展至5º。单次测量时间小于100ms。
在功能上，II型和III型设备支持S/P光测量，而I型设备则不提供。样品尺寸方面，I型要求大于5mm，而II型和III型则未提及具体要求。操作方面，I型是Windows XP和Vista系统兼容，通过USB2.0接口，产品尺寸为1020mm*485mm*300mm。所有型号的仪器均需100W/220V-50HZ供电。此外，所有设备都支持自定义打印报表格式，并具备开放式光学材料光坯反射率数据库。
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时间：2024-10-29 05:30
I型仪器采用Sony ILX511 x线形CCD阵列作为探测器，其检测范围覆盖380-1000nm，波长分辨率小于1.35nm，信噪比在全信号模式下为250：1，相对检测误差在400-800nm区间内小于0.6%。操作方式为手动。
II型设备升级为电动操作，依然使用Sony ILX511，检测范围拓宽至380-1100nm，波长分辨率保持在1.35nm以下，信噪比提升至1000：1。相对检测误差在400-800nm区间内降低至0.6%。它的角度分辨率极为精确，小于0.0002º。
III型测定仪则采用Hamamatsu S7031背照式2D-CCD，检测范围达到360-1100nm，波长分辨率同样小于1.35nm，信噪比显著提高，达到1000：1。角度分辨率进一步优化，重复定位精度在0.005º以内，最大旋转速度为25º/s。透射/反射测量角可调整在8º至80º之间，且可扩展至5º。单次测量时间小于100ms。
在功能上，II型和III型设备支持S/P光测量，而I型设备则不提供。样品尺寸方面，I型要求大于5mm，而II型和III型则未提及具体要求。操作方面，I型是Windows XP和Vista系统兼容，通过USB2.0接口，产品尺寸为1020mm*485mm*300mm。所有型号的仪器均需100W/220V-50HZ供电。此外，所有设备都支持自定义打印报表格式，并具备开放式光学材料光坯反射率数据库。
