浅谈失效分析EMMI(亮点分析)

发布网友发布时间：2024-10-22 21:42

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热心网友时间：2024-11-05 11:50

探索电子世界的微观秘密：EMMI失效分析的艺术
在电子设备的精密世界中，失效分析是一种不可或缺的工具，而EMMI（Emission Microscopy for Microelectronics Inspection）正是这个领域的一颗璀璨明珠。它源于上世纪80年代，凭借其独特的高灵敏度，为我们揭示了微小故障的蛛丝马迹。EMMI是一种精密的光谱显微镜，通过捕捉半导体内部的荧光信号，帮助我们追踪电流路径中的故障点。
实例揭秘：
故障定位的精妙之处：在差分输出电路中，一旦T2遭受损伤，EMMI就像一位精密的侦探，显示出左侧三极管区域的荧光分布不均且强度明显高于右侧，从而准确地定位了故障源头。
实例展示的力量：以HBM 2KV ESD防护单元电路为例，通过漏电流测试与SEM图像的双重确认，EMMI再次证明了其在故障定位中的关键作用。
复杂电路的洞察力：放大器中的T1、T2、T3失效点，EMMI的分析不仅揭示了故障，还揭示了故障背后的深层原因，超出单纯亮点的表面现象。
然而，EMMI并非简单的“看图说话”，它要求操作者具备精准的判断力。在实际应用中，我们需要巧妙地调整偏置电压和灵敏度，同时要考虑到动态测试带来的复杂性，确保每一次分析的准确性。
未来，我们期待分享更多EMMI的实际案例，以深化我们的理解和技能。让我们一起探索这个领域的更多未知，提升电子失效分析的科学性和实用性。
深入研究与学习：
Chen, Kuang, Xu在2013年的IPFA会议上，详细阐述了EMMI在故障分析中的应用策略。
Inuzuka和Suzuki在IMTC 1994的报告中，深入剖析了半导体失效的荧光发射机制。
Hawkins等人在1990年的研究中，为我们揭示了光发射在CMOS ICs故障分析中的关键作用。
这些宝贵的参考资料，为我们的EMMI失效分析之旅提供了坚实的理论支持和实践经验。