电子组件失效分析
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发布时间：2024-10-22 21:42
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时间：2024-12-04 08:20
电子组件失效分析概述
电子组件失效分析是关键的技术领域，它旨在确保产品的性能和可靠性。以下是其主要内容架构:
1. 失效分析概论
失效分析涉及产品丧失功能或性能下降的情况。它定义为对失效器件的事后检查，目的是确认失效模式，揭示失效机理，并采取措施防止或纠正。
基本概念：失效指产品功能丧失或无法满足规定要求。失效模式包括如开路、短路、参数漂移等直观现象，而失效机理则是物理或化学变化过程的解释，如电迁移和银电化学迁移。
应力，即驱动产品运行的动力和环境条件，是影响产品性能的重要因素。
2. 失效分析的定义与作用
失效分析通过电测试和多种分析技术，对失效现象进行深入研究，以确定其原因。目标是找出故障根源，提出改善措施，确保产品质量和可靠性。
3. 失效模式分类
失效模式按持续性、时间、电测结果和原因分类，如致命性失效、电过应力和静电放电导致的失效，以及制造工艺不良等。
4. 失效机理与实例
失效机理是导致产品失效的物理化学过程，如电迁移和电化学迁移。例如，ESD失效机理是电子设备在静电放电时可能出现的失效情况。
