大家对cascode结构怎么理解?
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发布时间:2024-10-14 09:01
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时间:2024-10-29 21:19
Cascode结构在电路设计中广泛应用于提高输出阻抗、减少失配,从而提升电路性能。首先,需要理解电流镜Mismatch(失配)的概念,失配主要由工艺或设计问题引起,影响电路性能。电流镜的失配原因包括阈值电压失配、跨导失配、源漏电压及参数失配、工艺版图失配等。在讨论中,我们重点关注源漏电压及参数失配对电路性能的影响。
在讨论电流镜的失配问题时,需要考虑电流镜两支路电流及比例:忽略沟道调制效应时,其比例为特定公式。然而,实际上需要考虑沟道调制效应对结果线性的影响,因此在计算时应采用更精确的公式。由此,电路失配主要由两个参数的影响导致。为了减少失配,可以采取两种方法:一是确保两支路MOS管参数相同,实现匹配;二是当参数不同时,设计高阻抗恒流源。
Cascode结构通过R+MOS串联结构和跨导分析,显著提高输出阻抗。通过图1的R+MOS串联结构分析,可以得到输出阻抗的计算公式,说明该结构能有效提高输出阻抗,同时实现电路匹配和输出阻抗的提升。
图3展示了Cascode基本结构,将M1管看作电阻,计算其输出阻抗,说明Cascode结构不仅实现匹配,还具有高输出阻抗的特点。然而,这种结构可能导致信号摆幅减小,因为M1处于饱和区,且需要满足特定条件以保持稳定运行。图4显示了信号摆幅*问题。
为了达到更大的阻抗增益,三层Cascode结构(Multi-Layer)可以实现,图5展示了这一结构。它通过将下面两管看作一个电阻,计算最终输出阻抗,增益较之前的结构有所增大。但同样存在电压钳位问题,为了解决这一问题,可以将M3换成反馈放大器,如图6所示的反馈二层结构。
然而,引入闭环反馈可能会导致电路振荡。为了解决钳位电压导致的摆幅减小问题,可以采用低摆幅Cascode结构(图7),通过改变栅压接入位置来消除钳位电压。图8展示的高摆幅Cascode结构通过M5管子调整,解决了钳位电压问题,保证了M3处于饱和区,从而达到宽摆幅效果。
实现宽摆幅Cascode结构的方法包括电阻结构(图9)和复合管结构(图10)。电阻结构可以通过*电阻来满足特定条件,但存在的问题是电阻漂移,难以精确保证压降。复合管结构则通过两MOS管的串联复合,实现特定的尺寸比例,满足所需条件。
综上所述,Cascode结构通过合理设计和优化,能够有效提升电路性能,满足不同应用需求。然而,设计过程中也需注意存在的问题和*,并采取相应措施来克服它们。