发布网友 发布时间:2022-04-21 09:53
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热心网友 时间:2023-09-04 10:21
扫描电镜(TEM)和透射电镜(SEM)目前在各种材料结构,组织成分以及化学成分等方面研究上应用十分广泛,地位十分重要,其具体的区别如下:
1、电子种类不同。透射电镜收集的是透过样品的电子,扫描电镜是把从样品表面反射出来的电子收集起来并使它们成像。
2、观察得到的图像不同。透射电镜可以观察样品内部结构,但是一般只能观察切成薄片后的二维图像,许多电子无法透过的较厚样品,只能用扫描电镜才能看到。扫描电镜主要用来直接观察样品表面的立体结构,图像富有立体感,但只能反映出样品的表面形貌,无法显示样品内部的详细结构。
3、成像原理不同。扫描电镜的成像原理是由电子*产生的电子束经过三个磁透镜的作用,形成电子探针,经过透镜聚焦到样品表面上,也就是对样品扫描,然后把从样品表面发射出来的各种电子用探测器收集起来,并转变为电流信号经放大后再送到显像管转变成图像。