光纤端面测试仪 ProView
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发布时间：2024-09-27 00:57
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时间：2024-10-16 03:06
先进科技的呈现
ProView LD™，作为一款创新的干涉仪，专为精密测量125至720微米光纤端面而设计。这款仪器在生产线上不可或缺，无论在研发环境还是光纤维护中，都能展现出卓越的性能。它凭借其高度自动化的2D和3D图像分析功能，软件能够实时展示端面角度、平整度和倾斜情况，甚至可以测量光纤直径和两点间的距离等关键参数。ProView LD™的通用v型槽夹具兼容FITEL和Fujikura标准光纤夹具，裸光纤使用也毫不费力，标准连接器选项如SMA、FC/PC、ST/PC和LD80也支持客户自选。
卓越特性一览
精准适配：125-720 μm光纤包层直径的广泛支持
图像洞察：2D和3D图像分析，直观呈现光纤端面
直观显示：用户友好的PC端GUI，提供边缘检查模式
高效测量：自动角度估算，测试速度快如闪电
全面性能：检测平整度、垂直度、裂纹和污染，确保端面质量
图像与数据存储：自动抓取和保存珍贵的2D和3D图像及切割数据参数
拓普光研 - 领先的光学解决方案提供商
拓普光研，自2009年以来，一直致力于光子学前沿技术的推广与应用，与Hamamatsu、Yokogawa等三十多家光电领域顶级企业紧密合作，为国内用户提供市场咨询、产品推广和本地化技术服务。公司专注于光纤传感、激光集成、微纳光学、光纤通信、光学软件仿真等多领域，覆盖石油天然气监测、高压输电监控、光纤激光集成等广泛行业应用，为用户提供从软件仿真到高端测试仪表的全方位解决方案。
