12英寸探针台
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发布时间:2024-09-06 02:40
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时间:2024-10-21 17:18
晶圆测试探针台作为专为晶圆测试研发的设备,其设计旨在精确、高效地应对各种晶圆尺寸和温度环境。这款手动探针台特别适用于6英寸、8英寸和12英寸晶圆,测试温度范围可达室温至350℃,在高温低温测试中表现出色。其核心特点包括:
- 可定制配置,支持不同尺寸晶圆(6''、8''和12'')的测试
- 具备广泛温度控制,适应各种测试环境
- 提供芯片固定配件,增强稳定性
- 配备护罩,防止露水和噪音干扰
- 利用空气快速定位的测微计实现精确移动与微调
- 压盘的Z运动设计灵活,可进行粗细调整
手动晶圆测试探针台的应用场景广泛,包括低电平IV(fA)和CV(fF)测量、高功率器件的20KV DC/200A探针测试、RF测试、电阻测量,以及在极端温度下的特性测试。此外,它还支持可靠性测试,如TDDB。
为了满足更专业的测试需求,探针台提供了丰富的可选配件,如热 chuck、激光切割机、各种光源、三目显微镜、CCD相机等,以及与之兼容的测试仪器,如设备分析仪、功率器件分析仪、源度量单位、曲线*等精密测量工具。这些特性使得手动晶圆测试探针台成为晶圆测试过程中不可或缺的高效工具。