X射线谱数据处理
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发布时间：2024-07-16 00:32
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时间：2024-08-07 08:16
在X射线谱数据分析中，首先，射线脉冲信号通过放大器和多道分析器，被输入到计算机系统中。系统通过软件对数据进行一系列处理，以实现样品含量的定性和定量分析。以下是主要的处理步骤：
(1) 原始谱数据预处理: 测量过程中存在的统计性误差导致谱线带有统计涨落，因此需要进行光滑处理。系统采用二阶多项式五点光滑法，用公式 (ni-2 + 2*ni-1 + ni+1 + 2*ni+2) / 5 对计数ni进行平滑，可多次重复以优化效果。
(2) 自动寻峰: 通过比较法，系统自动找出谱线中的峰位。如果第i道计数满足 ni >k*(ni-1 + ni+1) (k通常为1-1.5)，则认为峰位于i-1, i, i+1道，选取计数最大的道址作为峰位。
(3) 能量刻度: 通过自动寻得的特征峰位置，计算出与X射线能量的对应关系，然后通过元素特征X射线能量库验证，以确定待测元素种类。
(4) 峰边界确定: 在定量分析中，需要明确特征峰的边界道址。对于高含量元素，由于半导体探测器的高分辨率，峰边界通常基于峰的全宽度来确定背景计数。
(5) 净峰面积计算: 使用沃森法对选定的峰边界内的数据点F进行处理，计算峰的净面积，其中F称为面积因子，β1和β2分别代表左边界和右边界。
扩展资料X射线谱， 波长大致介于700～0.1埃范围内的电磁辐射，X射线谱由连续谱和标识谱两部分组成，标识谱重叠在连续谱背景上，连续谱是由于高速电子受靶极阻挡而产生的轫致辐射，其短波极限λ0由加速电压V决定：λ 0 = hc /( ev )为普朗克常数，e为电子电量，c为真空中的光速。标识谱是由一系列线状谱组成，它们是因靶元素内层电子的跃迁而产生，每种元素各有一套特定的标识谱，反映了原子壳层结构 的特征。同步辐射源可产生高强度的连续谱X射线，现已成为重要的X射线源。
X射线谱数据处理
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