扫描隧道与扫描力显微镜分析原理图书目录

发布网友发布时间：2024-09-29 00:29

共1个回答

热心网友时间：2024-10-18 23:08

本文目录展示了扫描隧道与扫描力显微镜的深入分析原理。首先，第1章介绍了基本概念，包括扫描探针技术的分支，如扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)、磁力显微镜等，以及它们在表面分析中的应用和工作环境。

第2章探讨了STM和SFM的统一微扰理论，讲述了这种理论产生的背景，并重点讲解了改进的Bardeen近似法，为深入理解这两种显微镜的工作原理提供理论基础。

接着，第3章深入解析针尖与样品的相互作用，包括长程力、相互作用能、短程力和形变等，以及这些作用如何影响电子结构和挤压效应，以及从隧道传输到弹道传输的转变过程。

第4章通过分子动力学模拟，研究针尖与样品相互作用的具体动态，展示了算法和特定案例的研究方法。

第5章关注弹性介质接触式SFM技术，详细阐述了层状材料的连续弹性体理论，以及SIW和弹性介质间的作用，以及局部抗弯刚度的测量。

第6章聚焦于原子尺度的摩擦理论，解释摩擦力的微观机制，理想化的摩擦力学模型，以及如何通过模拟计算来理解和预测摩擦力。

最后，第7章讨论非接触力显微技术的理论基础，涵盖了范德瓦尔斯力、离子力、溶解力、毛细力等多个方面的分析方法和结论。