谱线轮廓具体内容

发布网友发布时间：2024-10-07 06:26

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热心网友时间：2024-12-08 10:06

谱线轮廓，实质上是光谱线能量随波长分布的描绘[1]。辐射强度 Iv 和辐射流 Fv 在谱线频率 v 处的表现，与连续光谱的对应值 I捒和 F捒相比较，我们有剩余强度 rv，定义为rv = Iv / I捒或者 rv = Fv / F捒。谱线内频率 v 的深度 Rv，与剩余强度 rv 之间的关系是 Rv = 1 - rv。以剩余强度 rv 为纵坐标，频率 v 为横坐标绘制的曲线，即为谱线轮廓图（如图所示）。对于吸收线，其轮廓下的阴影区域是吸收线相对于连续光谱背景的全部能量的度量，称为总吸收。总吸收的强度越大，吸收线越显著。用一个等面积的、高度为 1 的矩形表示总吸收时，矩形的宽度即为 Wv，因此总吸收又称为等值宽度。若使用波长 λ 代替频率，对应的剩余强度和等值宽度则分别表示为 rλ 和 Wλ。

在使用有缝摄谱仪观测时，谱线轮廓往往会受到狭缝宽度和衍射效应的影响，呈现为并非实际无限窄的轮廓，这部分称为仪器轮廓。实际观测到的谱线轮廓是仪器轮廓与真谱线轮廓的叠加。为了获取真谱线轮廓，必须从观测结果中减去仪器轮廓的影响。影响谱线轮廓的因素多种多样，包括辐射阻尼、多普勒效应、压力效应、恒星自转、恒星大气的膨胀以及湍动等。