能量色散型X射线荧光分析仪主要技术指标
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发布时间:2024-10-07 06:03
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时间:2024-11-22 20:04
能量色散型X射线荧光分析仪主要技术指标如下:
分析方法基于能量色散X射线荧光分析法,适用于Si至U(包括Cd/Pb/Cr/Hg/Br的高精度分析),以及Na至U的可选型号,其中直径φ1.2mm和φ0.1mm切换方式供用户选择。
仪器的检出下限相当低,例如Cd/Pb/Hg/Br/Cr的最低检测限可达5ppm。样品尺寸最大可至460×380mm,高度为150mm,支持多种类型样品分析,如塑料、金属、纸张、涂料、油墨和液体。
分析环境要求简单,样品室处于大气环境中,X射线管采用Rh靶材,最大管电压可达50KV,最大管电流为1mA。X射线照射径可调整为1/3/5mm,以满足不同检测需求。
安全防护严格,辐射水平低于电脑屏幕,仅为<0.1mR/Hr。使用硅SIPIN探测器进行检测,配备15倍光学图像观察功能。软件方面,自动定性分析功能强大,包括自动去背景、剥离重叠峰、补偿逃逸峰和谱图漂移校正。
定量分析支持基础参数法、标准法以及1点校正等多种方法。计算机配置要求较高,至少PentiumIV1.8GHz处理器,内存256MB以上,硬盘20GB以上,操作系统推荐WindowsXP。显示器为17寸LCD。
工作环境温度在10~35℃(性能温度)和5~40℃(动作温度)之间,湿度在5~31℃时相对湿度不超过80%,31~40℃时相对湿度低于50%。电源需求为AC110V/220V±10%,50/60HZ,设备总体耗电不超过1.3KVA,包括计算机、LCD和打印机。
整套设备的重量约为65kg,不包括桌面和计算机。设备的外形尺寸为600(宽)×545(深)×435(高)mm。