椭圆偏振技术的介绍
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发布时间：2024-10-05 23:23
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时间：2024-11-24 08:35
椭圆偏振技术是一种多功能和强大的光学技术，通常用来测量薄膜的厚度和介电性质（复数折射率或介电常数）。椭圆偏振是一个很敏感的薄膜性质测量技术，且具有非破坏性和非接触之优点。它已被应用在许多不同的领域，从基础研究到工业应用，如半导体物理研究、微电子学和生物学。
