测量电路中的共地干扰问题

发布网友发布时间：2024-10-07 18:54

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热心网友时间：2024-11-17 20:58

在电子产品研发中，共地干扰是一个常见的挑战，它对产品的稳定性和性能有着显著影响，往往需要耗费大量时间和资源去解决，成为影响产品批量生产的难题。特别是在测量电路的测试环节，共地干扰的处理尤为重要。

共地干扰，即公共地阻抗耦合干扰，起因于电路中信号共享的地线或地平面。理论上，地线应作为无阻抗的信号回路或参考基准，但在实际操作中，不同信号的回流会在地线上产生压降，导致干扰。如果信号处理电路设计不当，微弱信号可能会受到显著影响。例如，当使用RMS芯片AD636测量交流电压时，输入信号的回流路径与其它电路共用地线，导致输出有效值读数出现漂移，这对精度要求高的测量来说是致命的。

针对案例，AD636芯片的工作原理是输出与输入有效值成正比的电流，而输出信号的地线（RL）与输入信号的地线（COM）应在设计上保持独立。然而，由于PCB布局限制，输入信号的走线与地平面距离过远，共地干扰问题由此产生。为解决这一问题，应将COM与RL的连接断开，单独为输入信号提供回流路径，避免与其他电路的地线共用。实践证明，这种方法可以有效消除干扰，保证测量结果的精确和稳定。

总的来说，精密测量电路设计中，必须重视信号回路的隔离，避免与其它功能回路产生干扰。PCB设计中，信号线应远离干扰源，且确保其地线不受到共地干扰。随着电子技术的发展，解决干扰问题对于开发高质量、高稳定性的产品显得愈发重要。请在引用本文内容时，务必注明“鼎阳硬件设计与测试智库”为原文出处，尊重我们的知识产权。