JTAG国际协议

发布网友发布时间：2024-10-03 10:06

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热心网友时间：2024-10-03 11:03

JTAG，全称为集成测试接口，是一种广泛应用于芯片内部测试的国际标准协议（遵循IEEE 1149.1规范）。它被大多数高级器件如DSP和FPGA所支持，标准接口包括TMS（模式选择）、TCK（时钟）、TDI（数据输入）和TDO（数据输出）四条线。TCK用于提供测试时钟，TDI允许数据输入，TDO则用于数据输出，而TMS则用来选择不同的测试模式。TRST是测试复位引脚，低电平有效，通常与GND相连。

TI公司还推出了一种简化接口SBW-JTAG，它仅需SBWTCK和SBWTDIO两条线，实际使用时可通过四线连接（VCC、SBWTCK、SBWTDIO和GND）以节省引脚。JTAG最初的功能是芯片测试，通过TAP（测试访问口）在内部进行节点测试，且支持串联多个器件形成测试链，对每个器件进行独立测试。

现在，JTAG接口在ISP（在线编程）中也扮演重要角色，如对FLASH器件进行编程，改变了传统的先预编程后安装的流程。通过JTAG在线编程，可以简化工程流程，加快进度。对于像PSD这样的芯片，JTAG接口可以对所有内部部件进行编程操作。

硬件上，JTAG接口由JTAG端口和控制器组成，兼容的器件包括微处理器、微控制器、PLD、CPL、FPGA、DSP和遵循IEEE1149.1标准的ASIC等。该标准规定每个数字集成电路引脚都配有一个边界扫描单元（BSC），它们在JTAG测试期间与内核逻辑电路相连，但不会影响正常工作时的电路功能，仅在测试时提供隔离作用。

扩展资料

JTAG是英文“Joint Test Action Group（联合测试行为组织）”的词头字母的简写，该组织成立于1985 年，是由几家主要的电子制造商发起制订的PCB 和IC 测试标准。JTAG 建议于1990 年被IEEE 批准为IEEE1149.1-1990 测试访问端口和边界扫描结构标准。该标准规定了进行边界扫描所需要的硬件和软件。自从1990 年批准后，IEEE 分别于1993 年和1995 年对该标准作了补充，形成了现在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要应用于：电路的边界扫描测试和可编程芯片的在线系统编程。