系统芯片SoC的设计与测试内容简介
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发布时间：2024-10-04 23:12
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时间：2024-10-05 11:04
系统芯片因其独特的优点，如速度快、集成度高和低功耗，备受关注。《系统芯片SoC的设计与测试》这本专著深入剖析了SoC设计与测试的核心技术和常用策略。全书共分为15个章节，内容涵盖广泛：
首先，探讨了系统芯片的设计模式与流程，揭示了其实现的逻辑步骤。
接着，系统阐述了系统芯片的总线结构，这是芯片内部数据传输的关键部分。
芯核设计是书中重要一环，它涉及到芯片的处理器核心部分的设计与优化。
软硬件协同设计则强调了软件和硬件如何紧密配合，以提升整体性能。
存储系统设计是保证芯片高效运作的重要环节，书中对此进行了详细讲解。
模拟/混合信号设计则是处理芯片中的模拟信号和数字信号处理，这部分内容不可或缺。
低功耗设计是现代芯片设计的焦点，书中对此进行了深度剖析。
信号完整性，作为设计中的重要因素，被专门章节详细论述。
验证技术是确保芯片性能的关键步骤，书中对此进行了全面的介绍。
系统芯片的可测性设计，保证了芯片的测试和维护过程，这部分同样重要。
测试调度与测试结构优化设计，旨在提升测试效率和准确性。
芯核的测试方法和策略，对于芯片性能的评估至关重要。
物理设计，包括芯片布局和制造工艺，是芯片实现的基础。
片上网络（NoC）技术，连接各个部分，确保数据高效流动。
无论是电子、通信、计算机还是自动控制学科的高年级本科生和研究生，还是电子信息技术、数字系统设计、测试和维护领域的专业人士，都能从《系统芯片SoC的设计与测试》中获益匪浅，它是一本实用且深入的参考书籍。
扩展资料
《系统芯片SoC的设计与测试》内容简介：系统芯片SoC能实现一个系统的功能，它是从整个系统的功能和性能出发，采用软硬结合的设计和验证方法，利用芯核复用及深亚微米技术，在一个芯片上实现复杂的功能。
