LCR数字电桥测试非晶磁环磁环阻抗，探求环境温度对阻抗测试的影响。测试条件2MHz,0.3V,100Ω仪器内阻。

发布网友发布时间：2022-05-19 05:56

共1个回答

热心网友时间：2023-10-03 05:18

挺有意思的测试方法，但我觉得，这样的测试存在一些问题，针对这个磁环，你希望的模型是一个单圈电感，通过单圈电感的阻抗，推导出磁性材料的一些特性，但这个单圈电感，好像没有行程回路，所以测试肯定是有问题的。
你希望了解环境温度，对阻抗特性的影响，那么你就得有可控的变温环境，还得实时监测温度变化，测试的阻抗变化（测试过程中，对测试夹具也是很有要求的），与温度变化，通过时间轴，将两者结合起来。

声明：本网页内容为用户发布，旨在传播知识，不代表本网认同其观点，若有侵权等问题请及时与本网联系，我们将在第一时间删除处理。E-MAIL:11247931@qq.com