电镀层厚度如何测量?铜基镍镀层,除荧光光谱仪、电解测厚仪外有没有其它仪器可测量?
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发布时间:2022-04-25 20:33
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时间:2023-10-15 00:06
有一种X光射线的测厚仪
德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪
Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择,可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成份分析,电镀液成份分析,中文简体、繁体、英文操作系统。
可测元素范围:
钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围:
原子序22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
自动测量功能:编程测量,自定测量
修正测量功能:底材修正,已知样品修正
定性分析功能:光谱表示,光谱比较
定量分析功能:合金成份分析
数据统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图。
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.完全超越其他品牌的所谓FP软件.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪
Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度.
可测元素范围:
钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围:
原子序22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
X-射线管:油冷,超微细对焦
高压:0-50KV(程控)
准直器:
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
电脑系统:IBM相容,17”显示器
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
热心网友
时间:2023-10-15 00:06
除了荧光光谱仪和电解测厚仪,还有一些其他的仪器可以用于测量铜基镍镀层的厚度,包括:
光学显微镜:光学显微镜可以观察样品表面的涂层情况,通过观察涂层的颜色、光泽度等方面来判断涂层的厚度。
扫描电子显微镜:扫描电子显微镜可以观察样品表面的涂层情况,具有高分辨率和高放大倍数等特点,可以精确测量涂层的厚度。
机械式测厚仪:机械式测厚仪是一种通过物理接触来测量涂层厚度的仪器,它具有简单、便携、经济等优点,但精度相对较低。
电容式测厚仪:电容式测厚仪是一种利用电容原理来测量涂层厚度的仪器,它适用于测量导电材料上的非导电涂层厚度,但精度受多种因素影响。
总的来说,根据具体的测量需求和样品特点,可以选择合适的仪器进行铜基镍镀层的厚度测量。
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时间:2023-10-15 00:07
涂层测厚仪
——涂层测厚仪是测量各种金属材料上的油漆层、氧化层、镀层等。
磁性测厚仪的工作原理:当测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
涡流测厚仪的工作原理:高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。
涂层测厚仪
——涂层测厚仪是测量各种金属材料上的油漆层、氧化层、镀层等。
磁性测厚仪的工作原理:当测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
涡流测厚仪的工作原理:高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。
http://www.testmart.cn/ProctFile/Html/CN/2004/8/26/645d1330-3f3d-4d9c-ac87-6807717b55d9.html
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时间:2023-10-15 00:07
铜基镍镀层厚度一般在日常工作中用金相分析仪测量.就是我们俗话说的切片.
热心网友
时间:2023-10-15 00:08
现在刚出来一款进口的捷克诺顿K6C配PH探头,专门无损测量金属基体上镀镍层,我们厂子买了3台,挺准的,希望我的建议对您有用