涂层厚度变化可导致的安全隐患
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发布时间：2022-04-24 17:11
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时间：2023-10-25 01:43
可以使用涂层测厚仪进行检测涂层厚度，防止这种安全隐患的出现。常见的涂层测厚仪有以下几种：
一、非接触无损涂层厚度的测试方法
1） 瑞士ATO涂魔师非接触无损光热法
涂魔师非接触式膜厚分析仪利用涂层与底材之间的热性能差异来实现非接触无损测量涂层厚度，首先用计算机控制闪光灯对未固化的漆膜进行短暂脉冲加热。高速红外传感器记录下涂层表面随时间变化的温度，表面温度根据涂层厚度和热性能以特征动态进行衰减。利用专门开发的算法评估表面的动态温度分布情况，最后可以定量确定涂层厚度。
测量原理图解见下图，安全、简单、快速且精确测量多层涂料厚度，实现在喷涂工艺中进行非接触式无损测量。
2） β辐射的反向散射
基于β辐射反向散射法（DIN EN ISO 3543），使用同位素源产生的高能电子照射待测涂层。由于多次散射过程（后向散射），一些入射的电子在入射侧离开该涂层。反向散射率，即放置在后半空间中的辐射检测器的脉冲率，可用作涂层厚度的度量参数。
3） X射线荧光法
在X射线荧光法（标准DIN EN ISO 3497）中，通过X射线照射来激发涂层以发射荧光辐射。在该方法中，光子的数量用作涂层厚度的度量参数。它主要用于测试电子，半导体和珠宝行业的金属涂层。
4） 光干涉
其余使用光学干涉原理（椭圆光度法和反射计）。用白光或红外光横向（椭圆光度法）或垂直（反射光度法）照射待测涂层。根据折射率，部分入射辐射再次被反射。 从表面和边界表面反射的光由于不同的传播时间而导致干涉图案，这可用作评估涂层厚度。 光学干涉方法只能用于光学透明涂层，主要用于研究纳米范围内的薄层。
比较上述几种非接触式无损测量方法，除了ATO涂魔师非接触膜厚分析仪，其他的无损测量方法都需要激发辐射来进行测厚，对人体存在潜在危险性和伤害性，测量时需要工作人员实行相应的保护措施，如在隔离室中采用X射线荧光法。因此，ATO涂魔师非接触膜厚分析仪对人体无危害性的特点应作为优先选择测量方案。
此外，ATO涂魔师非接触膜厚分析仪能够安全、简单、快速且精确测量涂层厚度，实现在喷涂工艺中进行非接触式无损测量，帮助企业高效保证产品质量，减少材料消耗，节省生产成本：
1. 不限测试底材，木材、橡胶、塑料、玻璃、混凝土等底材均可高精度测出涂层膜厚；
2. 不限涂层种类，油漆、粉末涂料、粘胶剂、润滑油、胶水等都适用；
3. 适应各种不规则和外形复杂工件；
4. 实时在产线上监测膜厚，数据100%存档；
5. 在固化前测出干膜厚度，及时调整喷*距离、出粉量等参数，提高膜厚均匀性及色调一致性。及时发现喷*堵塞等设备失效问题并和调整工艺参数。
二、接触式膜厚仪
目前大多数传统测厚仪属于接触式或者破坏式有损测量，并且且测试速度慢和测量繁琐，多适合于抽样检测。只有等待涂层干燥后才能测量涂层厚度，测量时探头需要挤压涂层表面，所以容易造成读数产生偏差。
例如，千分尺的精度是±1微米，如果涂层厚度为12微米，测量偏差则是±8%，加上人为误差影响，大大超出了生产厂家的允许偏差范围。可见，接触式千分尺不能作为有效可靠的测厚方法。
其他接触式测厚仪还有：测量金属底材涂层厚度——采用接触式电磁感应或涡流法膜厚仪；测量非金属底材涂层厚度——采用DIN EN ISO 2808标准提及到的楔形切割法；DIN 50950标准提及到的横切法或是在特定情况下使用ISO 2808标准的接触式超声波测量设备。
但随着人们对产品质量和外观要求越来越严格，上述测量方法显然已经不能满足生产厂家的实际需求，并存在不少局限性，故不适合应用在铝型材生产。具体缺点如下：
1. 需等待膜层干燥而使工序滞后，无法在喷涂/涂布后马上得知干膜厚度；
2. 受底材的种类*，很多材料不适用；
3. 测试方法对材料有损伤，测试成本高；
4. 无法测试曲面、弯角、小零件等复杂形状；
5. 不能在生产线上直接实时测试；
6. 不能及时发现生产环节及喷涂设备出现隐患，如喷*堵塞、文丘里管磨损等；
热心网友
时间：2023-10-25 01:43
涂层厚度变化可导致的安全隐患这个要具体问题具体分析了，比如是电子行业的芯片针脚电镀还是电力行业的铜排电镀，亦或者是紧固件的镀层厚度。一般可以通过相应的仪器来确定涂层的厚度，下面是相关的仪器介绍希望能帮到你！
涂层测厚仪是一种用于测量样品表面涂层或薄膜厚度的设备，具体测量方法有以下几种：
磁性测厚法：适用于导磁材料上的非导磁涂层厚度测量，如钢铁、铜、铝等金属材料上的涂层或薄膜厚度。测量原理是利用磁性传感器测量样品表面磁场的变化，从而确定涂层或薄膜的厚度。
涡流测厚法：适用于导电金属上的非导电涂层厚度测量，如铝、铜等金属材料上的涂层或薄膜厚度。测量原理是利用涡流传感器产生涡流，通过测量涡流与样品表面涂层或薄膜的相互作用来计算涂层或薄膜的厚度。
超声波测厚法：适用于多层涂镀层厚度的测量。测量原理是利用超声波在样品表面涂层或薄膜中的反射和传播特性，通过测量超声波的反射时间和传播速度来确定涂层或薄膜的厚度。
X射线荧光测厚法：适用于金属材料上的镀层厚度测量。测量原理是利用X射线荧光原理，通过测量样品表面镀层对X射线的荧光反应来计算镀层的厚度。
电化学测厚法：适用于金属材料上的涂层厚度测量，如镀锌、镀铬等。测量原理是利用电解或电化学方法，通过测量涂层与金属基体的电极反应来确定涂层的厚度。
光学测厚法：适用于透明材料或反射率较高的非金属材料的厚度测量，如玻璃、塑料等。测量原理是利用光学干涉或反射原理，通过测量光线在样品表面涂层或薄膜中的干涉和反射特性来确定涂层或薄膜的厚度。
以上是涂层测厚仪常见的几种测量方法，根据不同的应用需求和材料特点，需要选择合适的测量方法和仪器进行涂层厚度的测量。
热心网友
时间：2023-10-25 01:44
实际上，除聚酣漆外， 其余涂料 次涂装也不可能涂成很 厚的涂层，如刷涂过厚，易起皱，垂直表面易流挂；喷涂时，由 于雾化得很细， 就不可能一次喷厚；辗涂时， 如涂层太厚， 涂 料易被涂漆棍压出板件边缘之外；等等。
油漆涂层厚度分为以下几种参考性厚度：
(1) 一般性涂层为 30-40 微米。
(2)装饰性涂层为 35~45 微米。
(3)保护性涂层为 125~130微米。
(4) 耐磨性涂层为 130~150微米。
(5) 高固体含量厚涂层为 700~1000 微米。
(1)测定湿膜厚度。 较简单的办法， 是用 块可放在口袋里随身携带的金属板， 其两边都有矩形的齿， 每边齿形的两端的两个平面都是在同 个水平面上， 而中间各齿则距水平面 有依次递升的不同高度。使用时，把它垂直接触于试验表面，齿 形粘附湿膜的最大读数即为该湿膜的厚度。
(2) 测定干膜厚度。 目前普遍使用干膜厚度计。 也可利用机械方式， 如杠杆干分尺等来测定金属底板上涂层的厚度，由于杠杆于分尺本身结构的局限性，它只能用来测定较小面积的试板。
对于涂层所用的其他底板材料，如玻璃、木板、纸张等，要 测定其漆膜厚度，则一般用杠杆于分尺。先测出玻璃底板的厚 度，待涂上漆后再测定玻璃板与漆膜的总厚瘦，把总厚度减去 玻璃底板厚度，即可得出漆膜的厚度。
热心网友
时间：2023-10-25 01:44
一、涂层测厚仪
涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等） 及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
二、特点及应用领域
涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
三、测定原理
1、磁性测厚法
适用于钢铁上的非磁性材料（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）涂镀层厚度测量。
2、涡流测厚法
适用非磁性金属（铝、铬、铜）上的涂层材料（珐琅、橡胶、油漆等）厚度测量。
四、分类
1、磁感应测厚仪
位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即镀层厚度。此方法国际公认方便精准快捷。
2、机械式测厚仪
此种仪器上世纪70年代用过，是一种破坏式，精度差，要破坏产品，己经淘汰。
3、电解式测厚仪
仪器比较大，操作复习，价格高，也是要放药水去破坏镀层，时间长，一般很少人用。
