糖耐量受损相关解释
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发布时间：2024-07-03 07:18
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时间：2024-08-22 18:21
在医学领域，为明确区分正常血糖水平与糖尿病之间的潜在风险，1979年首次提出了“糖耐量受损”这一概念。它描绘了一种高血糖状态，预示着糖尿病的发展可能性。1985年，世界卫生组织(WHO)定义了糖耐量受损的临床标准，即空腹血糖低于7.0 mmol/L，而在负荷后两小时血糖在7.8至11.1 mmol/L之间。美国糖尿病学会(ADA)在1997年引入了“空腹血糖受损”(IFG)的概念，规定空腹血糖值在6.1至7.0 mmol/L之间。
1999年，WHO进一步整合了空腹血糖受损和糖耐量受损，将两者视为糖尿病发展过程中的重要环节，统称为“糖调节受损”(IGR)。在中国，大约有4.8%的人口患有糖耐量受损。口服糖耐量试验作为评估这一状况的常用方法，因其准确性和可靠性，至今仍被广泛视为诊断糖耐量受损的黄金标准。
这一系列定义和分类，旨在早期识别血糖异常，以便进行干预，防止疾病进一步恶化，对糖尿病的预防和管理具有重要意义。
扩展资料
耐量受损（IGT）是由正常血糖向糖尿病过渡的异常糖代谢状态，主要表现为餐后血糖升高。诊断标准为：空腹血糖<6.1毫摩尔/升，口服葡萄糖耐量试验（OGTT）2小时后血浆血糖值处于7.8～11.1毫摩尔/升之间，称为单－IGT，如空腹血糖6.1~7.0毫摩尔/升，则称为合并有空腹血糖异常。目前认为，几乎所有糖尿病患者都要经历IGT阶段，故又称为糖尿病前期。若病情进展，餐后血糖＞11.1毫摩尔/升时，即进入糖尿病阶段。
