二次电子像的衬度主要来源于

二次电子像的衬度主要来源于形貌衬度。二次电子的特点 1、能量小于50eV，询渗犁在固体样品中的平均自由程只有10~100nm。在这样浅的表层里，入射电子与样品原子只发出有限次数的散射，因此基本上未向侧向扩散。二次电子成像 1、二次电子像主要是反映样品表面10nm左右的形貌特征，像的衬度是形貌衬度，...

2）背散射电子能量高,以直线轨迹逸出样品表面,对于背向检测器的样品表面,因检测器无法收集到背散射电子而变成一片阴影,因此,其图象衬度很强,衬度太大会失去细节的层次,不利于分析.因此,背散射电子形貌分析效果远不及二次电子,故一般不用背散射电子信号....

形貌衬度得形成就是由于某些信号，如二次电子、背散射电子等，其强度就是试样表面倾角得函数，而试样表面微区形貌差别实际上就就是各微区表面相对于入射电子束得倾角不同。【点击了解产品详情】由于二次电子信号主要来自样品表层5—10nm深度范围，它得强度与原子序数没有明确得关系，而仅对微区刻面相对于...

可看成由许多不同倾斜程度的面构成的凸尖、台阶、凹坑等细节组成，这些细节的不同部位发射的二次电子数不同，从而产生衬度。二次电子像分辨率高、无明显阴影效应、场深大、立体感强，是扫描电镜的主要成像方式，特别适用于粗糙样品表面的形貌观察。2.背散射电子像（不严格地俗称“成份像”或“原子序数...

，a大的面发射的二次电子多。3、特征不同：二次电子像主要是反映样品表面10nm左右的形貌特征，像的衬度是形貌衬度，衬度的形成主要取于样品表面相对于入射电子束的倾角。电子照射到待测样品的过程中，样品能发射一部分电子，背散射电子探头就会检测到这些电子，从而产生相应的电信号。

二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌时，虽然原理相似，都是利用检测信号的强弱来反映表面衬度，但它们之间存在一些显著的区别。二次电子像主要是由于凸出的尖棱、小粒子以及比较陡的斜面处二次电子产额较多，在荧光屏上这部分的亮度较大。平面上的二次电子产额较小，亮度较低。而在深凹槽底部，尽管...

背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜装机的二次电子产率就很高了，所以二次电子像是...

1. 扫描电镜的SE和BSE模式在信号收集方式上存在差异。SE模式主要收集二次电子，而BSE模式则收集背散射电子。2. SE和BSE模式的分辨率不同，其中SE模式的分辨率相对较高，而BSE模式的分辨率则较低。3. SE和BSE模式产生的图像衬度也不同。SE模式下，图像的衬度主要是由样品的立体形貌决定的，而BSE模式...

背散射电子: 背散射电子是入射电子在试样中经散射(弹性和非弹性散射)后,再次逸出样品表面的高能电子,其能量接近于入射电子能量。背散射电子的产额随着试样原子序数的增大而增加,所以背散射电子信号的强度与样品的化学组成有关,能显示原子序数衬度,可用于对试样成分作定性的分析。 二次电子像和背散射电子像的区别: 二...

经过放大、转换，变成电压信号，最后被送到显像管的栅极上并且调制显像管的亮度。显像管中的电子束在荧光屏上也作光栅状扫描，并且这种扫描运动与样品表面的电子束的扫描运动严格同步，这样即获得衬度与所接收信号强度相对应的扫描电子像，这种图象反映了样品表面的形貌特征。