发布网友 发布时间:2024-04-13 21:04
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热心网友 时间:2024-10-10 13:54
背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的,所以原子序数大的原子越大,弹性碰撞的概率越大,所以原子序数大的背散射电子强度的大;二次电子是从样品表面发射的电子,跟原子序数没关系,跟样品的表面形态有关,因为撞击角度90度是二次电子基本么有,倾斜装机的二次电子产率就很高了,所以二次电子像是跟样品观察角度有关的。热心网友 时间:2024-10-10 13:49
二次电子像中也会有少量的背散射电子参与成像,因此当成分差别特别大的时候,在二次电子像中也会呈现成分的衬度,但是没有背散射中那么明显。楼上说的对,TEM中样品越厚,取向越正,明场像就会越黑,此外原子序数也会在明场像中得到反映,原子序数越大对电子的散射越多,因此观察到的TEM明场像就越黑。热心网友 时间:2024-10-10 13:50
SEM背散射电子图像中,原子序数越大越亮,二次电子图像衬度跟原子序数无关,跟表面有关,越是“突兀或是尖锐”的地方越亮。至于TEM中的衬度就复杂一些,跟样品的厚度、晶体的取向和观察方向都有关系。