发布网友 发布时间:2024-02-05 15:33
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热心网友 时间:2024-08-16 12:59
两独立样本的非参数检验(Wilcoxon M-W U检验)+Bonferroni检验(Bonferroni correction)。楼主碰到的是参见的多重检验校正问题multiple testing或者称为post hoc,不管是在方差籂叮焚顾莳该锋双福晶分析、卡方检验还是非参数检验都会碰到。在方差分析中提供了诸如LSD-t、SNK-q检验之类方法,而在其它情况基本无公认方法(有方法,但不常用)。但有一种通用的校正方法叫Bonferroni检验,即根据检验次数将检验水准降低(一般书本放在卡方检验这章),当然这是一种过于保守的校正方法,试想,检验了k次,alpha就要除以k,得到这样的阳性结果确实不太容易;当然根据概率的计算,如果k次检验完全相互独立,检验水准确实应该除以k。由于非参数检验两两比较主要采用Wilcoxon M-W U检验,这时校正再加上Bonferroni即可。参数检验时因为LSD-t等检验的检验效率更高,所以一般不采用它;理论上其实也可以,这时用t检验+Bonferroni检验,只不过检验效率较低而已。热心网友 时间:2024-09-11 15:37
两独立样本的非参数检验(Wilcoxon M-W U检验)+Bonferroni检验(Bonferroni correction)。楼主碰到的是参见的多重检验校正问题multiple testing或者称为post hoc,不管是在方差籂叮焚顾莳该锋双福晶分析、卡方检验还是非参数检验都会碰到。在方差分析中提供了诸如LSD-t、SNK-q检验之类方法,而在其它情况基本无公认方法(有方法,但不常用)。但有一种通用的校正方法叫Bonferroni检验,即根据检验次数将检验水准降低(一般书本放在卡方检验这章),当然这是一种过于保守的校正方法,试想,检验了k次,alpha就要除以k,得到这样的阳性结果确实不太容易;当然根据概率的计算,如果k次检验完全相互独立,检验水准确实应该除以k。由于非参数检验两两比较主要采用Wilcoxon M-W U检验,这时校正再加上Bonferroni即可。参数检验时因为LSD-t等检验的检验效率更高,所以一般不采用它;理论上其实也可以,这时用t检验+Bonferroni检验,只不过检验效率较低而已。