关于XRD图谱的基本解析和解读，如何得出结论
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发布时间：2022-04-22 12:48
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时间：2023-10-05 23:07
XRD图谱从衍射图谱、电子密度、高峰、面积等四个方面进行分析。
1、衍射图谱分析
首先在进行XRD图谱分析的时候可以通过材料进行XRD，然后分析它出来的一个衍射图谱，这样能够获取到里面的一个成分问题，材料内部的院子和分子结构以及形态也是可以通过XRD图谱的衍射图谱来分析出来的。
2、电子密度分析
电子密度分析的话是需要测量衍射光束的强度和角度来分析，通过可以产生经体内的电子密度的三维图像，通过电子的密度就可以确定出晶体中原子的平均位置，这样就能够找到其化学键以及其他的有用信息了。
3、高峰分析
针对于高峰分析的话，需要xrd图谱的内容，能够看到A峰比B峰高很多的时候，可以通过两峰之间的高度比A/C来确定一个相对标准粉末的衍生图对应的峰，这样能够通过分析得到一个程序控制下温度物质质量以及温度关系之间的一个曲线。
4、面积分析
通过XRD图谱的一个面积能够看到相关的晶体含量，针对于这类晶体含量来说的话，面积越大，晶体含量就越多，在XRD图谱中能看到的是相对背地强度高的话，则是表示晶体含量高，这其实和前面面积表示晶体含量是同一种分析方法。
XDR的定义与原理：
一、定义
XRD即X—ray diffraction的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
X射线是一种波长很短（约为20—0.06埃）的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中，包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。
二、原理
XRD的基本原理为X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。
