3至6西格玛要求的缺陷率怎么算的?

发布网友 发布时间：2022-04-28 18:31

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热心网友 时间：2022-06-22 20:22

DPMO=[缺陷数 / 机会数] x 10^6。

DPMO（Defects Per Million Opportunity）即每百万次采样数的缺陷率是指100万个机会里面，出现缺陷的机会是多少。这里有一个计算公式，即DPMO=[缺陷数 / 机会数] x 10^6。

如果DPMO是百万分之三点四,即达到99.99966%的合格率,那么这就叫六西格玛。(DPMO与西格玛的对应关系如下图所示)。

扩展资料：

具体算法是：失败的测试用例/所有经过测试的用例数*100%

但是由于缺陷率会因为执行测试用例数的变动而变动，导致如果相同的缺陷，对应不同的测试用例的话，会产生出不同的缺陷率。

如果需要使用缺陷率来表达软件质量（或者衡量软件质量）的话，建议先创建比较完善的测试用例库，并且定期维护，在成熟的测试用例的基础上，针对某一个项目中不同版本的软件，或者某一款产品中不同版本的软件，在这样的基础上来衡量的软件质量才是相对合理而且科学的。

参考资料来源：百度百科-缺陷率

热心网友 时间：2022-06-22 20:22

DPMO=[缺陷数 / 机会数] x 10^6。

DPMO（Defects Per Million Opportunity）即每百万次采样数的缺陷率是指100万个机会里面，出现缺陷的机会是多少。这里有一个计算公式，即DPMO=[缺陷数 / 机会数] x 10^6。

如果DPMO是百万分之三点四,即达到99.99966%的合格率,那么这就叫六西格玛。(DPMO与西格玛的对应关系如下图所示)。

扩展资料：

缺陷机会数，是指产品、或服务、或过程的输出可能出现缺陷之处的数量。如：一块线路板有200个焊点就有200个出现焊接缺陷机会；一张申请表有15个栏目就有15个出现填表缺陷的机会。

DPMO容易受到不良的测试覆盖问题影响。如在过程中任何点，缺陷没有被检测到，就可能未被包含在DPMO计算内。

所以，如果全部测试步序的所有测试覆盖面相加起来是完全的，SMT组装过程整体DPMO能反映正确的整体DPMO。反之，单一测试步序缺少覆盖，则‘产能’的可信度降低，当全部测试步序相加，缺少必须的测试覆盖，则整体DPMO的可信度将被削弱。

产品间DPMO比较时，应考虑到产品的‘相对复杂性’与‘可制造性指数’。例如汽车电子大批量含3000焊点印制板组件，与3000焊点通讯组件板间的DPMO比较，在技术层次上是可能有效的，但实际上因为不同产品间的质量要达到相同水平是十分困难的，所以受到*。

产品间的DPMO或与标准比较时，重要的是需要考虑那些因素可以认为是‘对等’的，在这个关系中，复杂性指数是很有用的。

参考资料：百度百科——DPMO

热心网友 时间：2022-06-22 20:23

DPMO=[缺陷数 / 机会数] x 10^6。

但是由于缺陷率会因为执行测试用例数的变动而变动，导致如果相同的缺陷，对应不同的测试用例的话，会产生出不同的缺陷率。

所以如果需要使用缺陷率来表达软件质量（或者衡量软件质量）的话，建议先创建比较完善的测试用例库，并且定期维护，在成熟的测试用例的基础上，针对某一个项目中不同版本的软件，或者某一款产品中不同版本的软件，在这样的基础上来衡量的软件质量才是相对合理而且科学的。

扩展资料：

缺陷机会数，是指产品、或服务、或过程的输出可能出现缺陷之处的数量。如：一块线路板有200个焊点就有200个出现焊接缺陷机会；一张申请表有15个栏目就有15个出现填表缺陷的机会。

DPMO容易受到不良的测试覆盖问题影响。如在过程中任何点，缺陷没有被检测到，就可能未被包含在DPMO计算内。

所以，如果全部测试步序的所有测试覆盖面相加起来是完全的，SMT组装过程整体DPMO能反映正确的整体DPMO。反之，单一测试步序缺少覆盖，则‘产能’的可信度降低，当全部测试步序相加，缺少必须的测试覆盖，则整体DPMO的可信度将被削弱。

产品间DPMO比较时，应考虑到产品的‘相对复杂性’与‘可制造性指数’。例如汽车电子大批量含3000焊点印制板组件，与3000焊点通讯组件板间的DPMO比较，在技术层次上是可能有效的，但实际上因为不同产品间的质量要达到相同水平是十分困难的，所以受到*。

产品间的DPMO或与标准比较时，重要的是需要考虑那些因素可以认为是‘对等’的，在这个关系中，复杂性指数是很有用的。

参考资料来源：百度百科——DPMO

热心网友 时间：2022-06-22 20:23